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卡尔蔡司（上海）管理有限公司
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蔡司ZEISS O-INSPECT 光学系统
每个领域中的专家 来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供
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蔡司ZEISS NEO pixel测量软件
ZEISS NEO pixel测量软件 将显微技术与测量功能相结合 实现微观尺度下的精确测量 随着工件越来越微型化，生产工具能够以非常微小的公差呈现出极其精细
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09-14
蔡司蔡司光学显微镜 用于材料研究的Axioscope
蔡司 Axioscope 在材料实验室用于日常工作和研究应用的显微镜 解决方案 用于材料和金相研究 可靠的结果 得益于先进的光学处理 全面自动化 带来的自
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09-14
蔡司蔡司Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context microCT X-ray系统为您的未来保驾护航 蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机断层扫描系统。凭借强大的平台和灵活
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09-14
蔡司ZEISS PiWeb 软件
完美掌控所有的重要数据 无论在什么地方。 ZEISS PiWeb ZEISS PiWeb 是具扩展性的质量数据管理 IT 解决方案。 用户可藉此解决方案管理源自于工业 4.0 的信
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09-14
蔡司蔡司 Xradia 810 Ultra
蔡司 Xradia 810 Ultra 扩展无损纳米成像的性能和应用范围 开启科学探索之门 拥有蔡司 Xradia 810 Ultra X射线显微镜，您可以实现低至 50 nm 的空间分辨率
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09-14
蔡司蔡司 Xradia 800 Ultra
蔡司 Xradia 800 Ultra 超高分辨率无损三维成像系统 类同步辐射的实验室三维成像 拥有蔡司Xradia 800 Ultra X 射线显微镜，您可以实现低至50 nm 的空间分
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09-14
蔡司蔡司 Xradia 410 Versa
蔡司 Xradia 410 Versa 三维亚微米成像的主力解决方案 填补实验室无损亚微米显微镜的空白 Xradia 410 Versa 填补了高性能 X 射线显微镜和低功能计算机断层
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09-14
蔡司蔡司 纳米级和关联颗粒度分析
量身定制的颗粒度分析解决方案 按需配置系统 快速的纳米级、化学成份和关联颗粒度分析 光学显微镜图像 对零配件和生产过程进行清洁度检测时，需要确保
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09-14
蔡司蔡司 Xradia 510 Versa
蔡司 Xradia 510 Versa 拥有出色灵活性的三维亚微米成像系统 通 用性——即使在长工作距离下，距离射线源数毫米至数厘米 蔡司 Xradia 510 Versa 三维 X 射
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